ADC 原理拆解 | 一图理清 ADC 五大架构特点

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ADC 是什么?我们为什么需要 ADC?ADC 有哪些架构?他们的工作原理和特点是什么,分别适用于哪些场景?今天,就让 MPS 的 ADC 资深工程师为您逐一解密!
文末汇总了 ADC 五大架构的速度、精度和应用场景对比,如此实用又贴心?火速收藏!
一、ADC 是什么?
ADC 的英文全拼是 Analog to Digital Converter,中文为模数转换器,它可以将连续模拟输入信号转换为离散的数字信号,并以一序列 1 和 0 的形式进行传送。这些输入信号被量化为数字量后,再进行传输或进一步后续处理时,就不易受噪声干扰。
模拟信号:连续变化的物理量所表达的信息,如温度、湿度、压力、长度、电流、电压、光强、音色等。
数字信号:自变量和因变量都是离散的数据信息,通常容易被 MCU/DSP/CPU 进行后续处理的二进制数来表达。

从模拟到数字的变换就像从真实世界进入到像素世界,我们日常生活中常讲到的数码相机、手机上的摄像头模组内,就包含一个成像专用的 ADC,将图像中每个像素单元的模拟光强度值转换成数字量。

二、我们为什么需要 ADC?
现实世界中,我们被温度、湿度、光、声等物理量包围,作为有着感知能力的生物体,我们能够非常自然地获取模拟信号,并与这些物理量达成默契,但是对于 CPU、MCU 等各类电子设备来说,这些信号却很难被理解。
在数字化社会中,一切事物都被赋予了可量化的期待,对数据的读取、处理、传输和存储,成为了人类认识事物的基本逻辑。
因此,我们需要将现实世界中的模拟信号转换为机器能够理解的数字表达。现实世界和数字世界的“窗户纸”将由模数转换器(ADC)来捅破。
三、ADC 有哪些架构?他们的工作原理是什么?
ADC 架构有:并行比较型(Flash),逐次逼近型(Successive Approximation Register),积分型(Integrating),增量型(Delta-Sigma),流水线型(Pipeline)等。
1. 并行比较型(Flash)下图是并行比较型 ADC 的拓扑原理图,采样输入信号和设置好的比较电平直接比较得到输出。下图中假设有 n 个比较器,最下面的是第 1 个,满量程输入电平是 Vfsr,作为参考电压,由 n+1 个等值电阻将其均分为 n 个阶梯,那么第 X 个比较器负向输入电压为 Vfsr·X/(n+1),如果从第 m 个比较器开始以上的比较器输出都是 0,以下的输出都是 1,那么输入信号电压为$$V_{in}=V_{fsr}·m/(n+1)$$

一个n位分辨率的SAR型ADC,第一阶段,输入信号先和设定好的比较电平输入比较器作比较,比较电平设置为ADC满量程的一半 Vfsr·2-1,输出第一位二进制结果B1,将B1存入寄存器,第二阶段,输入比较器的比较电平根据第一次的比较结果设置为 Vfsr·2-1+(2·B1-1)Vfsr·2-2,此处的B1及后面公式中的B2,B3,Bn-1,Bn均作为十进制数参与计算,比较后输出第二位结果B2,同样存入寄存器,进入第三阶段,比较电平设置为 Vfsr·2-1+ (2·B1-1)Vfsr·2-2+(2·B2-1)Vfsr·2-3,得到第三位结果B3,直至第n阶段,比较电平设置为 Vfsr·2-1+ (2·B1-1)Vfsr·2-2+(2·B2-1)Vfsr·2-3+…+(2·Bn-1-1)Vfsr·2-n,得到最后一位结果Bn,由最高位B1至最低位Bn组成的n位二进制数即为该n位ADC的输出结果,转化为10进制数D,那输入信号的电平测量值等于Vfsr·D·2-n。
例如下图是一个6bit的SAR型ADC的转化流程,输入信号先和Vfsr/2比较得到最高位1,之后再和Vfsr/2+Vfsr/4比较得到第二位1,继续下去,得到二进制结果110101,根据上文的公式Vfsr·D·2-n得出输入电平为53·Vfsr/64,理论误差小于Vfsr/64。

下图是单斜率积分型 ADC 的拓扑原理图,通过积分器从 0 电平积分到达采样信号电平的时间计算得到采样电平。

采样开始时,积分器开始积分,同时计数器开始对输入的时钟信号 Clk 计数,假设该时钟频率为 f,积分电流为 Vref/R,经过时间 t 后 A 点电压超过输入信号的电压值,比较器输出从 1 跳变至 0,计数器停止计数,得到计数值 k,通过下方公式计算得到输入电压。

另外还有双斜率积分型 ADC,分时将输入电平和参考电平分别做正向和反向积分,可以更好的消除积分电路带来的误差,但是会增加一次积分时间,转换速度会更慢。
4. 增量型(Delta-Sigma)增量型 ADC 的拓扑原理图如下,先看积分器,如果输出小于 0,比较器输出 1,否则输出 -1,比较器输出 1 时,乘法器输出 Vref,否则输出 -Vref,所以当积分器输出大于 0 时,将有 Vin-Vref 输入到积分器中进行下一次比较,否则输入 Vin+Vref,记录每一次比较器的输出,统计输出 -1 的次数 X 和总比较次数 m,通过下方公式来计算输入电平,总的比较次数越高,分辨率越高。

流水线型 ADC 通常由多个相同结构的子单元组成,每个子单元包含一个 ADC,一个反向DAC,一个减法器,一个固定增益的放大器构成,子单元中的 ADC 多为 Flash 型,也有SAR 型。
如下图,假如一个X阶的理想化流水线 ADC,子单元中的 ADC 的精度为 n bit,该子单元满量程为 Vfsr,假设该子单元 m 输入信号 Vin 被该子单元内 ADC 量化的结果为 Am·Vfsr,那么该单元可输出的结果最小值 Amin=0,最大值 Amax=(2n-1)/2n,将 Vin 和该量化结果通过DAC 转化为模拟信号后送入减法器会得到一个小于等于 Vfsr·2-n 的差值 Vin-Am·Vfsr,该差值通过子单元内增益为 2n 的放大器放大后得到电平为 2n·(Vin-Am·Vfsr) 的模拟信号输出该单元,再作为输入进入下一级子单元 m+1,经过同样的流程得到量化结果 Am+1·Vfsr,每一级将输入信号和量化信号的差值放大后送至下一级再做量化,经过 X 阶最终会产生一个 X·n 位精度的量化结果,由以下公式计算,$$V_{in}=V_{fsr}·(A_{1}+A_{2}·2^{-n}+A_{3}·2^{-2n}+...+A_{x}·2^{-(X-1)n})$$

以上是理想状态,而实际情况是前级 ADC 的失调误差会导致输入信号和 DAC 输出的差值超出 0 到 Vfsr·2-n 的范围,此时 2n 的增益会导致输入到下一级的信号超出量程范围,为解决这个问题一般的做法是将放大器的增益降为 2n-1,利用后一级的冗余测量范围来校正上一级的误差。
每一级在完成当前流程后新的信号便可以输入进行新的量化,因此平均转换时间仅相当于信号走完单个子单元的时间 t,所以平均转换速度会很快,但是每个信号需要通过所有级才可以得到最终结果,因此当一个信号输入到得到结果至少需要时间 Xt,因此流水线型ADC 是一种转换快,但是高精度的会有较高的延迟。
四、ADC 五大架构对比
架构类型 | 速度 | 精度 | 特点和适用场景 |
Flash | 极快,通常在1GHz 或以上 | 低(10bit 以下) | 用输入信号和参考直接比较来得出结果,因此速度极快,但每提升1bit的精度,需要增加一倍的电路规模,导致精度很难做高,功耗较大,适用于精度要求不高但是采样速度有非常高要求的场景。 |
SAR | 较快,通常在1MHz 或以上 | 较低(8-16bit) | 由于有输入保持电路的存在使之存在较大输入电容,需要较强的输入能力,功耗较低,适合于采样速度有一定要求但是精度要求不高的场景。 |
Integrating | 极慢,通常在1kHz 以下 | 很高(16bit以上) | 由于需要较长的积分时间,精度越高的转换时间也越长,适用于采集低频或直流信号的场景。 |
Delta-Sigma | 较慢,通常为几kHz | 很高(16bit以上) | 通过过采样和噪声整形实现高精度,同时降低了采样速率,功耗较大,适合于低频或直流信号的高精度采样。 |
Pipeline | 很快,通常在100MHz 以上 | 较高(10-16bit) | 由于每一级可以独立运行,因此平均转换速度很快,但是每一次信号采样从输入到输出需经历每一级才能得到结果,造成了精度越高延迟较高的缺点,功耗较大,适用于采样率和精度要求都较高但对延迟不敏感的场景。 |
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